微束X射线荧光光谱分析技术在一种黑色纸张物证检验中的应用研究

• 作者: 张小婷 戴维列 方超 沈辉 王松才 胡孙林 钟伟健
• 来源期刊: 分析测试学报
• 学科: 工学
• 关键词: 微束X射线荧光光谱 元素分布 黑色纸张物证
• 年，卷（期）: 2009,（7）
• 所属期刊栏目: 研究简报
• 页码范围: 824-828
• 页数: 5页
• 分类号: TH744.16|TE622.1
• 字数: 1948字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-4957.2009.07.014

摘要

对7种真假纸币样本和2003年～2008年的32宗诈骗案件中共计225件被染黑的真假纸币物证,采用微束X射线荧光光谱仪(micro-XRF)分析其二维元素分布.结果表明:纸币元素分布特征都具有特定性,相同面额相同年版的纸币元素分布特征相同,相同面额不同年版的纸币元素分布特征有差异;真假纸币元素分布特征存在显著差异;被染黑的纸币元素分布特征与原纸币相同;因而可根据被染黑真假纸币的元素分布特征,鉴定其真伪并判断纸币种类.微束XRF分析在实际案件中黑色纸张物证的检验准确率为100%.因此,微束XRF技术能有效检验被染料染黑的真假纸币,具有灵敏度高,分析过程中不破坏样品,结果准确的特点,在该类物证的检验中具有较高的应用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张小婷		13	84	6.0	8.0
2	戴维列		11	87	6.0	9.0
3	钟伟健		1	9	1.0	1.0