可切换式TAM结构的快速SoC测试方法

• 作者: 潘伟涛 谢元斌 高海霞
• 来源期刊: 西安电子科技大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 测试访问机制 测试调度 测试用时 0-1规划
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 页码范围: 38-42
• 页数: 5页
• 分类号: TP206
• 字数: 2735字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2400.2009.01.008

摘要

由于现有TAM(Test Access Mechanism)结构中,被测IP(Intellectual Property)核都是固定地连接在某些TAM总线上,经常会导致测试资源浪费,故提出了可切换式TAM结构.某些IP核通过切换电路挂接在多组TAM上,可以使用多组TAM来完成对一个IP核的测试,减少了空闲时间,缩短了测试用时.按特定的排序规则,采用0-1规划先给每个IP核分配一组TAM,再采用一种启发性搜索算法,挑选合适的IP核使用多组TAM测试.对ITC2002基准电路的实验结果表明,该方法的测试用时较小.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高海霞	西安电子科技大学微电子学院	17	108	7.0	9.0
2	潘伟涛	西安电子科技大学微电子学院	15	45	4.0	5.0
3	谢元斌	西安电子科技大学微电子学院	10	30	4.0	5.0