HC08单片机LVI模块功能分析及其测试过程

• 作者: 张磊
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: HC08 LVI 单片机 电压抑制 失效
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 所属期刊栏目: 专业测试
• 页码范围: 22-23
• 页数: 2页
• 分类号: TN792
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2009.05.009

摘要

LVI模块作为HC08单片机的重要组成部分,保障了单片机的可靠运行,在工业应用中发挥着重要作用.文章阐述了HC08型单片机LVI模块组成结构,作用原理及其基本应用.特别介绍了LVI的常用指令.寄存器设置.分析了LVI模块的一般测试过程,并专门针对J750测试机分析了它的测试参数.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张磊		37	58	4.0	7.0