互耦效应对泰勒阵列天线的影响分析

• 作者: 段玉兴 洪家财 石吉锋
• 来源期刊: 测控技术
• 学科: 工学
• 关键词: 互耦效应 阵列天线 泰勒分布
• 年，卷（期）: 2009,（z1）
• 所属期刊栏目: 雷达和图像信号处理
• 页码范围: 190-193
• 页数: 4页
• 分类号: TN914
• 字数: 2645字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8829.2009.z1.055

摘要

互耦效应是低副瓣阵列天线分析与设计中需要考虑的重要问题.在经典阵列综合方法--泰勒综合法的基础之上,仿真分析了互耦效应对方向图副瓣性能的影响.结果表明,互耦效应对阵列天线的低副瓣性能影响较为严重.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	洪家财	装备指挥技术学院光电装备系	7	31	3.0	5.0