均匀线阵阵元缺损对波束方向图影响的分析

• 作者: 朱德智 闫冯军
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 波束形成 方向图 阵元缺损 锥化
• 年，卷（期）: 2009,（8）
• 所属期刊栏目: 图像分析
• 页码范围: 106-108,111
• 页数: 4页
• 分类号: TP391
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2009.08.033

摘要

当均匀线阵中某些阵元损坏时,该阵元无法接收入射信号,会导致波束形成结果与正常情况出现差别.在不进行加窗处理的情况下,波束方向图变化不大,主瓣幅度稍有减小,主瓣宽度和主副比也略有变化.然而对于锥化波束形成,波瓣的主瓣幅度、主副比和主瓣宽度受到明显影响,且与缺损阵元在线阵中的位置有着肾密的联系,当缺损阵元处于线阵中心时,波瓣性能受到严重影响.讨论了阵元缺损对波束形成的影响,通过比较缺损阵元在不同位置时的锥化波束形成波瓣性能变化,得知阵元离线阵中心越近对波瓣影响越大,因而要优先保证线阵中心阵元完好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱德智		2	9	1.0	2.0
2	闫冯军		2	9	1.0	2.0