染污绝缘子串直流污闪放电模型及验证

• 作者: 孙才新 张志劲 胡建林 苑吉河 蒋兴良
• 来源期刊: 电工技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 直流 绝缘子串 污闪模型 泄漏电流
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 所属期刊栏目: 电工材料
• 页码范围: 36-41
• 页数: 6页
• 分类号: TM855
• 字数: 4345字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-6753.2009.04.006

摘要

绝缘子污秽闪络事故严重威胁电力系统的安全可靠运行,目前国内外对污闪机理的研究主要是以平板模型为基础.本文以7片串XP-160绝缘子为例,开展染污绝缘子串直流污闪放电模型研究.提出染污绝缘子串直流放电过程的电路模型是由剩余污层电阻、沿面电弧和空气间隙电弧串联组成;根据模型计算所得的临界污闪电压与实测值的误差在7%以内;得到泄漏电流大于200mA时,染污绝缘子串局部电弧的综合受力中热浮力起主导作用,解释了局部电弧发展中存在飘弧现象的原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙才新	重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室	379	13536	63.0	93.0
2	蒋兴良	重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室	218	5355	38.0	64.0
3	张志劲	重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室	104	2551	29.0	47.0
4	胡建林	重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室	105	1743	26.0	37.0
5	苑吉河	重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室	22	766	12.0	22.0