光栅莫尔条纹特性检测仪的研制

• 作者: 何光宏 叶大梧 李龙林 王小勇 王银峰
• 来源期刊: 大学物理
• 学科: 物理学
• 关键词: 莫尔条纹 CCD 开放结构
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 所属期刊栏目: 物理实验
• 页码范围: 37-39
• 页数: 3页
• 分类号: O436.1
• 字数: 843字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0712.2009.04.011

摘要

介绍一种应用CCD进行测量的光栅莫尔条纹特性检测仪.该检测仪的结构完全开放,检测过程透明.不仅能够检测光栅副相对移动位移和移动方向与莫尔条纹移动数目和移动方向的关系,而且可以检测光栅副夹角变化对莫尔条纹宽度的影响.应用该仪器可以进行"莫尔条纹移动数目与光栅副移动位移关系测定"和"光栅副夹角变化和莫尔条纹宽度变化关系测定"两个实验,实验结果理想.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王银峰	重庆大学数理学院	13	71	4.0	8.0
2	何光宏	重庆大学数理学院	30	279	10.0	15.0
3	李龙林	重庆大学数理学院	2	13	2.0	2.0
4	叶大梧	重庆大学数理学院	5	17	2.0	4.0
5	王小勇	重庆大学数理学院	4	22	3.0	4.0