高加速寿命试验和高加速应力筛选试验技术研究

• 作者: 刘宏
• 来源期刊: 电子测试
• 学科: 工学
• 关键词: 寿命试验 应力筛选 高加速 技术 应用
• 年，卷（期）: 2009,（3）
• 所属期刊栏目: 设计与研发
• 页码范围: 5-8,22
• 页数: 5页
• 分类号: TM93
• 字数: 4943字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2009.03.002

摘要

高加速寿命试验(HALT,highly accelerated life test)和高加速应力筛选试验(HASS,highly accelerated stress test)技术是近年来不断发展起来的可靠性新技术,其工作原理、试验目的、应力要求等与传统的可靠性试验有所不同,是考核与提高产品质量与可靠性的强有力的工具.本文将就HALT & HASS技术与传统的可靠性试验进行比较,重点阐述HALT & HASS的特点、关键保证,以及如何利用现有可靠性试验设备逐步开展该试验,以达到缩减研发时间与成本,提高产品可靠性和增强市场竞争力的目的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘宏	中国电子科技集团公司第四十一研究所	58	385	9.0	18.0