表面增强激光解析离子化蛋白芯片技术在重型颅脑创伤伤情判断中的应用

• 作者: 刘振林 刘晓智 孙世中 张赛 陈镭 马铁柱
• 来源期刊: 中华创伤杂志
• 学科: 医学
• 关键词: 脑损伤 蛋白质组学 蛋白芯片
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 所属期刊栏目: 颅脑损伤
• 页码范围: 29-31
• 页数: 3页
• 分类号: R6
• 字数: 2604字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3760/cma.j.issn.1001-8050.2009.01.10

摘要

目的 探讨采用表面增强激光解析离子化(surface enhanced laser desorption-ioniza-fion,SELDI)蛋白芯片技术判断重型颅脑创伤(sTBI)患者伤情程度的可行性.方法 利用弱阳离子芯片和质谱分析测定sTBI患者血清中的差异蛋白峰表达,分析峰强度与GCS评分的相关性.结果 共获得101个有效蛋白质峰,其中27个峰间比较差异有统计学意义(P<0.05),2个峰(m/z 4 972和m/z 5 322)强度与sTBI的GCS呈负相关,6个(m/z 3 941、m/z 4 295、m/z 8 714、m/z 8 792、m/z 14 020和m/z 28 148)呈正相关.结论 SELDI蛋白芯片技术可能成为未来sTBI患者伤情判断的客观检测方法之一.