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摘要:
论述了白光发光二极管(LED)在封装和应用中存在的主要模式和失效机理,并介绍了若干失效分析实例,提出了可靠性保证措施,对于进一步完善白光LED封装技术、提高其寿命和可靠性提供参考.
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文献信息
篇名 白光LED的失效机理分析
来源期刊 半导体光电 学科 工学
关键词 白光LED 失效机理 静电损伤 失效分析
年,卷(期) 2009,(6) 所属期刊栏目 光电器件
研究方向 页码范围 857-859,882
页数 4页 分类号 TN312.8
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 吴福根 广东工业大学实验中心 85 662 14.0 22.0
2 杨少华 工业和信息化部第五研究所电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室 12 49 4.0 6.0
3 张春华 广东工业大学实验中心 19 139 8.0 11.0
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研究主题发展历程
节点文献
白光LED
失效机理
静电损伤
失效分析
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体光电
双月刊
1001-5868
50-1092/TN
大16开
重庆市南坪花园路14号44所内
1976
chi
出版文献量(篇)
4307
总下载数(次)
22
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