基于边界扫描技术和Tcl语言的DualSRAM测试设计

• 作者: 王凤驰 胡丙华
• 来源期刊: 电子测试
• 学科: 地球科学
• 关键词: 边界扫描 Tcl语言 DualSRAM测试 DFT
• 年，卷（期）: 2009,（6）
• 所属期刊栏目: 设计与研发
• 页码范围: 29-32
• 页数: 4页
• 分类号: PT312
• 字数: 2085字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2009.06.007

摘要

集成电路(IC)的迅猛发展促进了测试技术的研究和发展,支持IEEE1149.1标准的边界扫描芯片的广泛应用,使得边界扫描测试技术日益被重视.Tcl语言是一种简明、高效、移植性强的语言,它与边界扫描技术的结合,扩展了芯片测试技术的应用,使得IC的测试更加灵活.本文以DualSRAM的测试设计为例,介绍了以边界扫描技术为基础的Tcl语言的应用,同时根据测试开发中遇到的问题,提出了一些可测性设计(DFT)的建议.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王凤驰		5	9	2.0	3.0
2	胡丙华		4	9	2.0	3.0