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摘要:
从理论和实验两个角度研究了填样深度对多晶粉末X射线衍射仪中实验结果--峰位、半高宽(FWHM)、衍射强度的影响.结果表明,在对称反射几何情况下,金属及其合金样品填样深度效应可以忽略,填样深度在0.2~0.5 mm范围内能满足无穷厚度要求;对于绝大多数有机样品填样深度应不小于1.5 mm.
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文献信息
篇名 填样深度对多晶粉末X射线衍射仪测试结果的影响研究
来源期刊 分析测试学报 学科 工学
关键词 填样深度 多晶粉末 X射线衍射仪 峰位 半高宽 衍射强度
年,卷(期) 2009,(3) 所属期刊栏目 研究简报
研究方向 页码范围 342-344,348
页数 4页 分类号 TG115.23
字数 2443字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1004-4957.2009.03.019
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张健 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 272 3714 30.0 51.0
2 杨传铮 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 33 168 7.0 11.0
3 程国峰 1 4 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
填样深度
多晶粉末
X射线衍射仪
峰位
半高宽
衍射强度
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
分析测试学报
月刊
1004-4957
44-1318/TH
大16开
广州市先烈中路100号
46-104
1982
chi
出版文献量(篇)
6306
总下载数(次)
8
总被引数(次)
62582
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