基于自适应神经网络的高速数字电路测试的研究

• 作者: 周跃夫 姜海勋 王彤威 袁钢
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 神经网络 自适应神经网络 故障诊断
• 年，卷（期）: 2009,（6）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 1092-1094
• 页数: 3页
• 分类号: TP274
• 语种: 中文

摘要

介绍了神经网络的模型建立.针对高速数字电路故障诊断的特点,提出了基于自适应神经网络诊断方法;与传统的神经网络相比,基于自适应神经网络具有学习速度快、网络能够收敛到最优权值、收敛精度很高、网络的分类能力强等特点,从而很好地提高故障诊断的效率;通过一个测试用例验证自适应神经网络在高速数字电路测试诊断中的应用,可以大大提高故障诊断的效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王彤威		11	43	4.0	6.0
2	姜海勋		8	36	3.0	6.0
3	周跃夫		2	2	1.0	1.0
4	袁钢		7	10	2.0	2.0