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梅特勒-托利多庆祝XS分析天平荣获R＆D100大奖5周年
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摘要：
梅特勒-托利多XS分析天平在2004年荣获了由美国著名科技杂志《R＆D》颁发的R＆D100大奖，以表彰梅特勒．托利多为称量技术的创新作出的卓越贡献。为了庆祝XS分析天平荣获R＆D100大奖5周年，回报并感谢广大中国用户对梅特勒-托利多天平产品的一贯支持，特推出以下XP／XS分析天平产品的置换补贴促销活动：只要您购买XP／XS分析天平，
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季刊
ISSN：
0344-1733
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北京市西城区白云路1号11层
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出版文献量（篇）
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