测量微球覆层厚度的X射线衍射法

• 作者: 任勤 周上祺 应诗浩 彭倩 石泉
• 来源期刊: 重庆大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 微球 厚度测量 X射线衍射法 计算机模拟
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 所属期刊栏目: 材料科学与工程
• 页码范围: 392-395,401
• 页数: 5页
• 分类号: TG806
• 语种: 中文

摘要

对采用X射线衍射测量微球覆层厚度的方法进行了研究,首先在建立微球X射线衍射数学模型的基础上,利用一组已知厚度和X射线衍射线积分强度的标样,通过计算机模拟求解的方法,得到微球衍射线积分强度和覆层厚度的关系.然后,在相同条件下进行待测试样的X射线衍射实验,将其衍射线积分强度代入求解模型得到的结果中就能得到待测试样的覆层厚度.实验结果表明,X射线衍射法是可行的,具有快速、方便、非破坏、不接触等特点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	彭倩		33	217	9.0	13.0
2	周上祺	重庆大学材料科学与工程学院	85	912	16.0	27.0
3	任勤	重庆大学材料科学与工程学院	25	286	10.0	16.0
4	应诗浩		36	169	7.0	11.0
5	石泉	重庆大学材料科学与工程学院	4	18	2.0	4.0