预兼容实验室场地归一化衰减的仿真计算

• 作者: 吴淑忠 蔺安坤
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 电磁兼容性 预兼容实验事 XFDTD仿真 归一化衰减
• 年，卷（期）: 2009,（8）
• 所属期刊栏目: 电磁兼容
• 页码范围: 70-72,74
• 页数: 4页
• 分类号: TN03
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2009.08.027

摘要

如今电子产品的电磁兼容性受到人们越来越多的重视.而验证电子产品电磁兼容设计的合理性的主要手段就是电磁兼容测试.标准的电磁兼容实验室可以很好的满足产品电磁兼容测试的要求.但由于其建造成本过高,导致国内此类实验室的数量很少.很多研究所和高校建设了成本比较低但与标准实验室有一定差距的预兼容实验室.为了使其能尽量与标准实验室吻合,在设计阶段就根据其需求对其性能进行仿真计算就显得非常重要.文章主要对预兼容实验室场地归一化衰减用XFDTD软件进行了仿真计算,所得的结论对预兼容实验室的建设有一定的指导意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴淑忠	西安电子科技大学机电工程学院	8	32	2.0	5.0
2	蔺安坤	西安电子科技大学机电工程学院	7	25	3.0	5.0