固态继电器电磁脉冲损伤阈值试验不确定度评定

• 作者: 周辉 孙蓓云 毛从光 聂鑫 陈向跃
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 数学
• 关键词: 测量不确定度 损伤阈值 脉冲电流注入 电磁脉冲 半导体器件
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 页码范围: 1132-1135,992
• 页数: 5页
• 分类号: O1441.4
• 字数: 3318字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2009.05.048

摘要

国军标GJB538-88<半导体器件电磁脉冲损伤阈值试验方法>中没有不确定度评定的说明,根据该标准进行了固态继电器电磁脉冲损伤阈值试验,给出了试验测量不确定度评定的方法和步骤,并详细讨论了破坏性试验不确定度评定的特殊性.结果可供半导体器件电磁脉冲损伤阈值试验参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周辉		84	938	16.0	26.0
2	陈向跃		20	118	7.0	9.0
3	孙蓓云		36	408	10.0	19.0
4	聂鑫		23	142	7.0	11.0
5	毛从光		21	89	5.0	8.0