薄膜电容器损耗的频率特性

• 作者: 曹桂华
• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: 电容器 电容器的损耗 介质损耗 金属损耗 主要技术指标
• 年，卷（期）: 2009,（8）
• 所属期刊栏目: 可靠性分析
• 页码范围: 37-39
• 页数: 3页
• 分类号: TM533
• 字数: 3635字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2009.08.016

摘要

高频损耗是薄膜电容器的一个蕈要的指标,它直接影响整机的可靠性.文章介绍了电容器损耗的概念、损耗的组成、外界因素对损耗的影响;运用试验数据说明薄膜电容器的高频损耗随测试频率的增加而增加,两者之间不是线性关系;通过对薄膜电容器生产过程的分析,指出了高频损耗产生的原因以及应采取的措施,并运用0.618法和正交试验法确定了重要工序的主要参数.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曹桂华		2	9	1.0	2.0