3种空隙率测量建模方法的比较研究

• 来源期刊: 传感器与微系统
• 学科: 工学
• 关键词: 空隙率测量 电容层析成像 遗传算法 蚁群算法 最小二乘支持向量机
• 年，卷（期）: 2009,（8）
• 所属期刊栏目: 研究探讨
• 页码范围: 49-51,55
• 页数: 4页
• 分类号: TP391|O359
• 字数: 2951字
• 语种: 中文

摘要

介绍了测量空隙率的电容层析成像(ECT)系统,分析了ECT测量空隙率的基本原理.简述了3种空隙率测量建模方法,即分别基于遗传算法-偏最小二乘(GA-PLS)算法、蚁群算法(ASA)和最小二乘支持向量机(LS-SVM)的建模方法.建模数据均来自ECT传感器获取的电容值.在此基础上,提出了以ECT传感器为信息获得手段的空隙率测量建模的统一框架.通过实验数据对3种方法进行了评价,对它们从泛化误差、最大误差、平均误差和测量时间几个角度进行了比较.结果表明:LS-SVM方法的精度最高,泛化能力最强.