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摘要:
针对特征尺寸为1.5μm的国产静态随机存储器(SRAM),构建了三维SRAM存储单元模型,并对重离子引起的SRAM单粒子翻转效应进行了数值模拟.计算并分析了单粒子引起的单粒子翻转和电荷收集的物理图像,得到了SRAM器件的单粒子翻转截面曲线.单粒子翻转的数值模拟结果与重离子微柬、重离子宽束实验结果比较一致,表明所建立的三维器件模型可以用来研究SRAM器件的单粒子翻转效应.
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文献信息
篇名 静态随机存储器单粒子翻转效应三维数值模拟
来源期刊 物理学报 学科 物理学
关键词 三维数值模拟 单粒子翻转 微束 宽束
年,卷(期) 2009,(12) 所属期刊栏目 物理学交叉学科及有关科学技术领域
研究方向 页码范围 8651-8656
页数 6页 分类号 O4
字数 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1000-3290.2009.12.083
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 何宝平 46 291 9.0 13.0
2 罗尹虹 54 199 8.0 10.0
3 张凤祁 40 169 8.0 10.0
4 郭红霞 81 385 10.0 13.0
5 姚志斌 35 171 8.0 10.0
6 张科营 23 111 7.0 8.0
7 王园明 10 51 4.0 7.0
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研究主题发展历程
节点文献
三维数值模拟
单粒子翻转
微束
宽束
研究起点
研究来源
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引文网络交叉学科
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期刊影响力
物理学报
半月刊
1000-3290
11-1958/O4
大16开
北京603信箱
2-425
1933
chi
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