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摘要:
利用表面光伏谱可测光电材料的禁带宽度、导电类型、表面态能级和少数栽流子扩散长度等.分析了表面光伏技术的非破坏性、快速和高灵敏度等方面的优点,指出它可以在一个合适的温度范围内对任何环境下的任何半导体材料进行测量分析.研究表明,随着激光光源的应用、微弱信号检测水平的提高和计算机技术的发展,表面光伏技术的测量精度越来越高,可更加准确地分析半导体的能级结构和电子跃迁转移现象,因此必然会在光电材料与器件的研究中得到更为方泛的应用.
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文献信息
篇名 表面光伏谱在光电材料与器件研究中的应用
来源期刊 半导体技术 学科 工学
关键词 表面光伏谱 光电材料 太阳能电池
年,卷(期) 2009,(7) 所属期刊栏目 工艺技术与材料
研究方向 页码范围 679-683,714
页数 6页 分类号 TN304
字数 3452字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-353x.2009.07.16
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘艳红 大连理工大学物理与光电工程学院 14 73 6.0 8.0
2 刘爱民 大连理工大学物理与光电工程学院 7 43 4.0 6.0
3 刘维峰 大连理工大学物理与光电工程学院 8 100 6.0 8.0
4 周紫光 大连理工大学物理与光电工程学院 1 6 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
表面光伏谱
光电材料
太阳能电池
研究起点
研究来源
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期刊影响力
半导体技术
月刊
1003-353X
13-1109/TN
大16开
石家庄179信箱46分箱
18-65
1976
chi
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