一种改进D算法测试生成的关键技术研究

• 作者: 卢振达 张延生 陈建辉
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: D算法 测试生成 数字电路
• 年，卷（期）: 2009,（10）
• 所属期刊栏目: 研究与设计
• 页码范围: 1-3,32
• 页数: 4页
• 分类号: TP274
• 字数: 2616字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-7300.2009.10.001

摘要

数字电路测试的关键在于算出测试向量,本文基于传统D算法思想提出了一种改进型的D算法.与前者相比,新算法的主要优点是:(1)加快测试向量生成的速度;(2)提高了故障覆盖率.研究了新算法的关键技术,包括D立方设计、D立方的读入和初始D路径敏化等.经实例验证,测试程序自动生成了测试向量,说明改进后的D算法是一种有效的测试生成算法,为自动测试生成系统的设计奠定了基础.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈建辉	军械工程学院导弹工程系	59	347	9.0	15.0
2	张延生	军械工程学院导弹工程系	34	120	6.0	9.0
3	卢振达	军械工程学院导弹工程系	5	19	2.0	4.0