基于JTAG的DSP调试系统的设计

• 作者: 徐宇杰 梁利平
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: JTAG DSP 调试系统 断点
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 所属期刊栏目: 微处理器应用
• 页码范围: 108-110,115
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 2141字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-7300.2009.05.030

摘要

JTAG标准,即IEEE 1149.1标准,定义了一种国际通用的边界扫描结构和测试端口访问规范.如今众多芯片都兼容该标准.本文提出了一种基于JTAG的DSP调试系统的设计方案,支持断点,可观测内部寄存器、存储器,也可对存储器内容进行修改,对提高DSP开发效率有一定意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁利平	中国科学院微电子研究所	47	126	7.0	9.0
2	徐宇杰	清华大学微电子与纳电子学系	1	11	1.0	1.0