光无源器件测试系统设计和测试误差分析

• 作者: 杜维国
• 来源期刊: 电子测量与仪器学报
• 学科: 工学
• 关键词: 测试系统 测试方法 测试误差 插入损耗(IL) 隔离度(Isolation) 偏振相关损耗(PDL) 回损(RL) 光源 光功率计 边模抑制比
• 年，卷（期）: 2009,（z1）
• 所属期刊栏目: 现代测试及计量技术
• 页码范围: 78-84
• 页数: 7页
• 分类号: TN9
• 字数: 5272字
• 语种: 中文

摘要

光无源器件测试系统是光无源器件生产工艺的重要组成部分,是检测和判定光无源器件Pass/Fail的标准.而测试系统由于采用的测试仪器本身的精度问题、测试原理和方法、测试数据的取得方法上都有一定的误差,所以测试系统的误差是不可避免的.目前在光通信行业已有专业的公司提供完整可靠的测试仪器和方案.但对于想自行设计测试系统者来说,如何设计适合自己的产品,误差的测试系统是个主要的课题.本文就以光无源器件中常见的光学参数如IL、Isolation、PDL、RL的测试原理、测试系统的设计和在使用过程中产生的误差分析方面去做一简单的阐述,仅供初学者参考.