基于BIST的动态可重构FPGA的时延故障测试方法

• 作者: 何怡刚 方葛丰 杜社会 阳辉
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: BIST FPGA 动态可重构 时延故障
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 5-8
• 页数: 4页
• 分类号: TP407
• 语种: 中文

摘要

FPGA市场已经进入极速发展时代,不同的销售商已向市场投入更多更快的FPGA器件.随着FPGA器件的迅速发展,FP-GA的密度和复杂程度也越来越高,使大量的故障难以使用传统方法进行测试.因此,对FPGA器件的故障测试和故障诊断方法进行更全面的研究具有重要意义.为此重点研究了动态重构FPGA及其基本结构、特点;在此基础上探讨了基于BIST技术的FPGA时延故障测试方法,并成功应用于Lattice ORCA 2C系列FPGA中.实验证明,该BIST方法是可行且有效的,并且不需要昂贵的ATE设备.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何怡刚	湖南大学电气与信息工程学院	426	5127	34.0	51.0
2	阳辉	湖南大学电气与信息工程学院	22	131	8.0	10.0
3	方葛丰	湖南大学电气与信息工程学院	22	248	10.0	15.0
4	杜社会	湖南大学电气与信息工程学院	3	36	3.0	3.0