电磁脉冲作用下RS232接口受损特性分析

• 作者: 孙继银 时零 柴焱杰 王波 赵星阳 高晶
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 电磁脉冲干扰 RS232接口 Logistic回归
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 页码范围: 252-254,259
• 页数: 4页
• 分类号: TP309
• 语种: 中文

摘要

采用耦合夹钳将双指数电磁脉冲注入到RS232数据传输线中,模拟差模脉冲电压干扰,根据试验数据分析得出,RS232接口发送端口和接收端口主要因外加高压激发形成接口电路低阻通路,电路器件局部注入能量过多而受损,同时给出注入电压脉冲幅度和接口端口受损概率的Logistic模型,并以此估算出了端口正常和受损时的电压脉冲幅度上下界.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵星阳		5	43	4.0	5.0
2	孙继银		87	711	15.0	22.0
3	柴焱杰		12	89	5.0	9.0
4	高晶		19	198	6.0	14.0
5	王波		6	27	3.0	5.0