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摘要:
对YAP:Ce晶体的时间响应性能进行了测量.利用锁模激光器产生的266 nm激光照射到YAP:Ce晶体上,用GD40透紫光电管接受晶体产生的荧光,测量了YAP:Ce晶体的时间特性,得到了完整波形和时间性能参数.测量结果表明,波形前沿、半高宽、后沿和衰减时问分别为0.86 ns、12.53 ns、41.30 ns和18.77 ns.通过实验发现该晶体衰减时间很短(~26 ns),比NaI:T1快一个量级.且该晶体具有高光输出、高能量分辨率、高时间分辨率、对γ辐射敏感、γ/n甄别能力强等特点,该国产晶体在γ脉冲辐射测量中是一种比较好的候选晶体.
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YAlO3
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关键词云
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文献信息
篇名 掺铈YAP晶体的时间响应性能测量
来源期刊 电子测量与仪器学报 学科 工学
关键词 上升时间 下降时间 半高宽 衰减时 YAP:Ce闪烁体 光致激发
年,卷(期) 2009,(11) 所属期刊栏目 学术论文
研究方向 页码范围 79-82
页数 4页 分类号 TL812|TL816
字数 2513字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 胡孟春 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 49 110 6.0 8.0
2 周刚 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 10 12 2.0 3.0
3 李忠宝 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 23 53 4.0 6.0
4 冯春 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 7 20 3.0 4.0
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半高宽
衰减时
YAP:Ce闪烁体
光致激发
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电子测量与仪器学报
月刊
1000-7105
11-2488/TN
大16开
北京市东城区北河沿大街79号
80-403
1987
chi
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