电解液中Ce对ZAlSi12Cu2Mgl微弧氧化层的影响

• 作者: 刘向东 杜月和 王晓军
• 来源期刊: 特种铸造及有色合金
• 关键词: 微弧氧化层 稀土Ce ZAlSi12Cu2Mgl 微弧氧化
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 所属期刊栏目: 轻有色合金
• 页码范围: 79-81
• 页数: 3页
• 分类号: TG146.2+1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3870/tzzz.2009.01.027

摘要

在稳定的Na2SiO3电解液体系中对ZAlSi12Cu2Mgl进行微弧氧化,研究了电解液中稀土Ce的质量浓度对电解液电导率、微弧氧化过程中正/负向电流及微弧氧化层特性的影响.研究结果表明,随着Ce的质量浓度从0到0.125 g/L逐渐增加,电解液的电导率从15.15 MS/m逐渐上升到16.54 MS/m,微弧氧化过程中的电流发生明显改变;随着Ce的质量浓度的提高,微弧氧化层厚度和显微硬度先增大随后逐渐减小,在Ce质量浓度为0.025 g/L时达到最大,其氧化层厚度约为258μm;显微硬度(HV)约为620.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘向东	内蒙古工业大学材料科学与工程学院	106	541	11.0	18.0
2	王晓军		8	53	4.0	7.0
6	杜月和	中国人民解放军驻447厂军代室	1	1	1.0	1.0