智能交流接触器专用芯片系统的测试

• 作者: 冯涛 姚建军 戴鹏程 杨喆 白浩博
• 来源期刊: 低压电器
• 学科: 工学
• 关键词: 专用芯片 测试 交流接触器
• 年，卷（期）: 2009,（15）
• 所属期刊栏目: 智能电器及计算机应用
• 页码范围: 20-24
• 页数: 5页
• 分类号: TM572
• 字数: 3319字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-5531.2009.15.006

摘要

介绍了一种自主开发的智能交流接触器专用芯片系统的测试情况.简单描述了智能交流接触器控制原理以及专用芯片的基本框架和应用系统,重点介绍了专用芯片的测试流程和相应流程的测试软件,并对整个系统进行了产品节能降耗性能测试.对CJ20-400接触器采用智能交流接触器专用芯片系统控制进行了全面的测试研究.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姚建军		7	92	5.0	7.0
2	冯涛		5	40	4.0	5.0
3	杨喆		1	3	1.0	1.0
4	白浩博		2	8	2.0	2.0
5	戴鹏程		3	15	3.0	3.0