全差分高速低电压锁存比较器的设计

• 作者: 姚远 李章全 李萍
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 全差分 锁存比较器 失调电压 蒙特卡洛仿真
• 年，卷（期）: 2009,（7）
• 所属期刊栏目: 研究与设计
• 页码范围: 14-17
• 页数: 4页
• 分类号: TN432
• 字数: 2721字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-7300.2009.07.004

摘要

全差分锁存比较器在各种模数转换器中有着广泛的应用,其失调电压对于模数转换的精度有着直接的影响.本文提出了一种全差分高速低电压锁存比较器,着重对其失调电压和速度进行了优化.在0.25 μm标准CMOS IHP工艺条件下,采用了Cadence Spectre进行了仿真,结果表明,当工作频率为200 MHz,供电电压为1.5 V,延时仅为1.81 ns,失调电压为27.69 mV.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姚远	上海交通大学电子工程系	17	71	5.0	7.0
2	李萍	上海交通大学电子工程系	145	1150	14.0	28.0
3	李章全	上海交通大学电子工程系	12	69	5.0	8.0