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摘要:
磨削工艺被广泛应用于大直径Si衬底的制备中,而由磨削带来的Si片表面损伤及形貌对后续加工有较大的影响.利用扫描电子显微镜、粗糙度仪、喇曼光谱仪等工具对经过2000#、3000#、8000#砂轮磨削的Si片表面损伤层厚度及表面形貌进行了一系列测试,通过对测试数据的分析,得到了不同粒径磨削砂轮的优缺点,在此基础上提出了将传统单步磨削工艺优化为2000#磨削+8000#磨削的两步加工工艺,该工艺既可以保证较高的Si片表面质量,又具有较高的生产效率.
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文献信息
篇名 砂轮粒径对磨削后Si片表面形貌的影响
来源期刊 半导体技术 学科 工学
关键词 硅片 磨削 砂轮粒径 损伤层 表面形貌
年,卷(期) 2009,(12) 所属期刊栏目 工艺技术与材料
研究方向 页码范围 1200-1204
页数 5页 分类号 TN304.12
字数 2993字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-353x.2009.12.013
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 葛钟 2 10 2.0 2.0
2 闫志瑞 11 30 2.0 5.0
3 陈海滨 5 10 2.0 3.0
4 张果虎 2 11 2.0 2.0
5 唐兴昌 1 2 1.0 1.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
硅片
磨削
砂轮粒径
损伤层
表面形貌
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体技术
月刊
1003-353X
13-1109/TN
大16开
石家庄179信箱46分箱
18-65
1976
chi
出版文献量(篇)
5044
总下载数(次)
38
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