JR36-20过载继电器可靠性试验的失效分析

• 作者: 姚芳 李文华 王海涛 赵靖英
• 来源期刊: 低压电器
• 学科: 工学
• 关键词: 过载继电器 可靠性试验 失效分析
• 年，卷（期）: 2009,（17）
• 所属期刊栏目: 研究与分析
• 页码范围: 5-8
• 页数: 4页
• 分类号: TM581
• 字数: 2323字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-5531.2009.17.002

摘要

针对过载继电器可靠性较低、失效因素较多等问题,根据GB/Z 22204-2008"过载继电器可靠性试验方法",对JR36-20过载继电器进行了可靠性试验,根据试验结果及现场反馈信息,进行了失效分析,找出了JR36-20过载继电器的失效因素,为改善产品性能、提高产品可靠性提供依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵靖英		39	271	9.0	14.0
2	王海涛		37	284	10.0	15.0
3	李文华		69	428	12.0	18.0
4	姚芳		42	270	10.0	15.0