故障预测技术在半导体设计中的应用

• 作者: 李春 邸曼丽
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 故障预测 故障预测和健康管理 机内测试 内建可靠性
• 年，卷（期）: 2009,（3）
• 所属期刊栏目: 封装、测试与设备
• 页码范围: 279-282,286
• 页数: 5页
• 分类号: TN306
• 字数: 4228字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2009.03.021

摘要

介绍了IC可靠性对电子设备可靠性的影响及当前IC可靠性的局限性,阐述了故障预测的定义及详细介绍了"浴盆曲线"不同阶段的意义;从另一个角度介绍IC的可靠性,阐述了故障预测在集成电路设计中的价值.论述了故障预测在半导体设计中的应用问题,影响半导体器件寿命的因素.给出了静电损伤、热裁流子、TDDB和NBTI等影响半导体器件寿命的故障预测方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李春		1	0	0.0	0.0
2	邸曼丽		1	0	0.0	0.0