LabWindows/CVI在涂镀层测厚系统中的应用

• 作者: 赵为松 赵维树
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 虚拟仪器 Labwindows/CVI 涂镀层 测厚系统 ARM
• 年，卷（期）: 2009,（6）
• 页码范围: 1512-1515
• 页数: 4页
• 分类号: TP311
• 字数: 2858字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2009.06.067

摘要

针对目前涂镀层测厚系统存在的问题,由于虚拟仪器具有传统智能仪器无法比拟的优势,论文提出了基于虚拟仪器涂镀层测厚数据采集系统的设计思想.简要对涂镀层测厚系统进行了硬件设计,主要讨论以微控制器(ARM)为核心的涂镀层测厚系统的设计.特别讨论虚拟仪器的数据采集系统的设计.通过虚拟仪器能够实现对工作现场生产过程的实时监控、数据传输、实时处理、厚度曲线显示.该系统较好完成了涂镀层厚度中重要参数的实时全程控制,并且具有显示直观、反应迅速,性价比高等特点,因此具有一定的使用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵为松	安徽建筑工业学院机械与电气工程学院	15	93	5.0	9.0
2	赵维树	安徽建筑工业学院管理工程系	21	41	3.0	5.0