Si在燕麦籽粒中的富集及其与其它8种元素的关系

• 作者: 刘娟 周卫东 孙国荣 张国良 樊明寿 陈刚
• 来源期刊: 生态学报
• 关键词: 燕麦籽粒 Si X射线电子探针显微分析 富集
• 年，卷（期）: 2009,（12）
• 所属期刊栏目: 研究简报
• 页码范围: 6843-6849
• 页数: 7页
• 分类号: Q143
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-0933.2009.12.064

摘要

通过环境扫描电镜结合X射线电子探针显微分析技术,对22个基因型的燕麦籽粒皮层、糊粉层、近糊粉层和颖果中部的Si含量进行测定.结果表明,Si元素在燕麦籽粒不同部位的含量有明显差异,皮层和糊粉层Si含量较高,近糊粉层和颖果中部含量较低,在颖果中Si主要富集在糊粉层中;而且不同基因型燕麦籽粒同一部位或不同部位Si的积累量也有较大差异,这可能是由遗传差异引起的.糊粉层中的Si含量影响着近糊粉层和颖果中部的Si含量.另外,籽粒不同部位Si含量与P、Ca、Mg、S、Al、Pb含量之间存在显著或极显著的非线性关系,颖果中部的Si含量与K、Cd含量之间不存在显著的非线性关系.说明Si在燕麦籽粒中富集的同时也影响着P、Ca、Mg、S、Al、Pb等元素的富集.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周卫东	扬州大学江苏省作物遗传生理重点实验室	44	572	15.0	22.0
2	樊明寿	内蒙古农业大学农学院	126	1543	21.0	32.0
3	张国良	扬州大学江苏省作物遗传生理重点实验室	44	730	14.0	26.0
5	陈刚	扬州大学江苏省作物遗传生理重点实验室	108	1407	19.0	34.0
6	孙国荣	扬州大学江苏省作物遗传生理重点实验室	39	1155	17.0	33.0
10	刘娟	扬州大学江苏省作物遗传生理重点实验室	48	148	7.0	10.0