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摘要:
在高过载测试中,测试电路的灌封是一道关键的工艺,选用缓冲吸能效果好的灌封材料,采用合适的灌封工艺,是提高测试电路在高冲击和振动环境下工作可靠性的有效方法.从灌封材料的吸能机理、灌封材料固化应力产生机理等角度出发,论述了在进行灌封电路过程中需要注意的问题,确保灌封电路的整体性能和抗高过载性能.
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文献信息
篇名 高过载测试中的电子线路灌封技术研究
来源期刊 机械工程与自动化 学科 工学
关键词 高过载 电子系统封装 封装应力 缓冲吸能
年,卷(期) 2009,(5) 所属期刊栏目 工艺研究
研究方向 页码范围 90-91,94
页数 3页 分类号 TN707|TB743
字数 2789字 语种 中文
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研究主题发展历程
节点文献
高过载
电子系统封装
封装应力
缓冲吸能
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
机械工程与自动化
双月刊
1672-6413
14-1319/TH
大16开
太原市胜利街228号
22-117
1972
chi
出版文献量(篇)
9123
总下载数(次)
41
相关基金
国家自然科学基金
英文译名:the National Natural Science Foundation of China
官方网址:http://www.nsfc.gov.cn/
项目类型:青年科学基金项目(面上项目)
学科类型:数理科学
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