基于光学扫描测量数据的叶片型面偏差分析研究

• 作者: 张定华 王苦愚 程云勇 龚正国
• 来源期刊: 现代制造工程
• 学科: 工学
• 关键词: 型面偏差 公差带设计 配准 涡轮叶片
• 年，卷（期）: 2009,（12）
• 所属期刊栏目: 仪器仪表/检测/监控
• 页码范围: 97-100,132
• 页数: 5页
• 分类号: TH16|TP391
• 字数: 3070字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-3133.2009.12.026

摘要

为了满足叶片型面快速检测的需要,研究基于光学扫描测量数据的型面偏差分析技术.详细描述光学扫描测量的原理及数据采集过程,运用基于特征点的预配准和SVD-ICP算法来进行测量模型与CAD理论模型的配准定位,通过UG/API函数获取截面数据,对截面数据进行偏差计算,得到偏差情况统计结果.同时在偏差计算的过程中,针对叶片检测中截面各区域公差要求不一样的情况,提出一种基于轮廓线参数化的公差带设计方法,使得公差带的设计更好地符合实际检测的需要.基于上述算法,综合运用VC+ +,UG/API和VTK等工具,开发了叶片型面偏差分析软件,对于实现叶片型面的快速检测具有重要意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张定华	西北工业大学现代设计与集成制造技术教育部重点实验室	296	3953	32.0	44.0
2	程云勇	西北工业大学现代设计与集成制造技术教育部重点实验室	31	276	10.0	15.0
3	龚正国	西北工业大学现代设计与集成制造技术教育部重点实验室	1	4	1.0	1.0
4	王苦愚	西北工业大学现代设计与集成制造技术教育部重点实验室	2	27	2.0	2.0