接触器电寿命试验设备的设计

• 作者: 徐方荣
• 来源期刊: 低压电器
• 学科: 工学
• 关键词: 接触器 晶闸管 寿命试验 检测
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 所属期刊栏目: 智能电器及计算机应用
• 页码范围: 17-19
• 页数: 3页
• 分类号: TM572|TP216
• 字数: 1753字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-5531.2009.05.005

摘要

针对接触器电寿命试验的特点,利用晶闸管技术和单片机控制的方式设计了一种无触点试验设备,用于替代原有的采用接触器作为陪试品的试验方式.该设备具有成本低、控制精度高、响应时间短、可靠性高等特点,可满足低压电器检测行业的发展需求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐方荣		5	46	2.0	5.0