用于测量Z箍缩铝等离子体K层辐射的邻苯二甲酸氢铊弯晶摄谱仪

• 作者: 丛培天 吕敏 吴刚 孙铁平 王亮平 盛亮 蒯斌 邱爱慈 雷天时 韩娟娟 魏福利 黑东炜
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 物理学
• 关键词: Z箍缩 K层辐射 弯晶谱仪 分幅相机
• 年，卷（期）: 2009,（7）
• 所属期刊栏目: 脉冲功率技术
• 页码范围: 1115-1120
• 页数: 6页
• 分类号: O536
• 字数: 4487字
• 语种: 中文

摘要

基于邻苯二甲酸氢铊(TAP)弯晶和软X射线分幅相机建立了一套4通道的时空分辨弯晶摄谱仪,测谱范围1 500～2 300 eV,时间分辨约2 ns.分析了谱仪各环节的信号传递和转换过程对系统谱响应的影响.利用该谱仪在"强光一号"加速器(约1.5 MA,80～100 ns)Al丝阵Z箍缩实验中获得了时间分辨及时间积分的Al等离子体K层辐射谱,记录到了类H、类He离子主要共振线及类Li、类He离子双电子复合伴线.将摄谱结果与分能区X射线图像进行了比较.时间分辨的发射谱相对强度与积分结果有明显不同,反映了等离子体在5～10 ns时间尺度上的电子温度和离子布居变化.