基于正态分布的双应力交叉步阶试验仿真研究

• 作者: 孟亚峰 蔡金燕 贾占强
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 加速寿命试验 双应力交叉步阶 蒙特卡洛仿真 正态分布
• 年，卷（期）: 2009,（2）
• 所属期刊栏目: 科学计算及信息处理
• 页码范围: 71-75
• 页数: 5页
• 分类号: TB114.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2009.02.021

摘要

首先针对高可靠、长寿命电子装备的可靠性评估问题,提出一种新的试验方法--双应力交叉步阶试验.而后在正态分布下,通过理论模型的建立,运用Monte-Carlo仿真对该试验的试验效率问题进行深入研究,分析得出形状参数σ、寿命特征参数μ与加速效率指标之间的基本关系.结果表明在实际试验条件下,双应力交叉步降试验与双应力交叉步加试验相比,其试验效率是十分明显的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡金燕		144	811	13.0	18.0
2	贾占强		17	157	6.0	12.0
3	孟亚峰		56	260	8.0	10.0