基于克隆选择和聚类的模拟电路故障诊断技术

• 作者: 崔江 王友仁 田锡宇
• 来源期刊: 传感器与微系统
• 学科: 工学
• 关键词: 克隆选择 故障诊断 小波变换 模糊C-均值 聚类
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 所属期刊栏目: 研究与探讨
• 页码范围: 43-46
• 页数: 4页
• 分类号: TP183
• 字数: 3306字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-9787.2009.04.014

摘要

提出了一种克隆选择和聚类的模拟电路故障诊断技术,该技术将克隆选择算法的全局寻优和模糊C-均值的局部寻优相结合,并利用模糊C-均值的目标函数去构造克隆选择算法的亲和力函数,可以减少特征空间中样本的相互重叠所产生的诊断不确定性,利于故障模式的定位.仿真结果和分析验证证明:该方法缩短了故障的分类器收敛时间,提高了故障诊断率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王友仁	南京航空航天大学自动化学院	190	2254	25.0	36.0
2	崔江	南京航空航天大学自动化学院	71	878	15.0	27.0
3	田锡宇	南京航空航天大学自动化学院	1	0	0.0	0.0