电子设备自动测试系统的环绕BIT设计

• 作者: 何玉珠 杨福兴 胡彭炜
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 环绕BIT 自动测试系统 PCI总线
• 年，卷（期）: 2009,（12）
• 所属期刊栏目: 在线测试与故障诊断
• 页码范围: 137-139,143
• 页数: 4页
• 分类号: TP206
• 字数: 1956字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-7300.2009.12.039

摘要

介绍了环绕BIT设计原理,结合某型自动测试系统的结构特点,针对系统不同组成模块(通讯、AD、DA、DI、DO等)采取不同的环绕BIT设计处理方式,并采用流程解析的方法来简化BIT流程设计,实现了系统的机内检测.实验表明,设计满足该自动测试系统自检和故障隔离的需要,提高了测试效率,提供了可靠的维修策略和依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨福兴	北京邮电大学自动化学院	36	400	11.0	19.0
2	何玉珠	北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院	49	254	10.0	13.0
3	胡彭炜	北京邮电大学自动化学院	1	11	1.0	1.0