距离弯曲差对SAR欺骗干扰成像的影响

• 作者: 李永祯 杨伟宏 王雪松 陈永光
• 来源期刊: 系统工程与电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 合成孔径雷达 干扰 距离弯曲差 成像算法
• 年，卷（期）: 2009,（10）
• 所属期刊栏目: 防御电子技术
• 页码范围: 2343-2345,2475
• 页数: 4页
• 分类号: TN958
• 字数: 3875字
• 语种: 中文

摘要

研究有源欺骗干扰难以补偿距离弯曲差形成的相位差对距离弯曲差对SAR成像质量的影响.建立了含干扰SAR成像的矩阵模型,分析了高精度成像算法下有源欺骗干扰成像中距离弯曲差的累积散焦效应,比较了R-D算法和CS算法等不同成像算法在不同距离弯曲差区域内含干扰的保护目标区的成像性能.仿真验证了在大场景高精度成像算法下有源欺骗干扰的散焦效应,为改进SAR干扰对抗方式提供借鉴.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王雪松	国防科技大学电子科学与工程学院	349	3783	29.0	40.0
2	李永祯	国防科技大学电子科学与工程学院	115	1014	17.0	23.0