基于有向图的BIT级联虚警分析

• 作者: 刘小雄 池程芝 章卫国
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 有向图 BIT 虚警 关联耦合 级联图
• 年，卷（期）: 2009,（7）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 1243-1244,1275
• 页数: 3页
• 分类号: TP302
• 语种: 中文

摘要

机内测试(BIT)是一种提高系统测试性和诊断能力的重要技术,然而系统部件之间及部件内部存在的关联耦合关系往往导致BIT虚警;采用基于有向图的方法对BIT进行虚警分析,在系统级联图中对一种耦合关系提出同胚的概念,并给出了优化方法,给出BIT虚警分析步骤,分析报故部件的故障可信度和虚警可信度;仿真算例表明该方法可有效地应用于BIT虚警的分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	章卫国	西北工业大学自动化学院	245	1879	21.0	28.0
2	刘小雄	西北工业大学自动化学院	110	752	12.0	19.0
3	池程芝	西北工业大学自动化学院	10	40	3.0	6.0