雷达下视环扫成像分辨率研究

• 作者: 李静 潘旭东 王小虎 黄培康
• 来源期刊: 系统工程与电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 环扫DBS 环扫SAR 方位分辨率 约束最优化
• 年，卷（期）: 2009,（2）
• 所属期刊栏目: 防御电子技术
• 页码范围: 315-318
• 页数: 4页
• 分类号: TN822
• 字数: 3298字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-506X.2009.02.016

摘要

雷达下视环扫成像作为一种特殊的成像方式,可在较大地域范围对感兴趣的目标快速成像,继而对飞行器定位并精确制导.对下视环扫DBS和环扫SAR两种成像模式进行了分辨率研究,纠正了一些文献在DBS分辨率计算时存在的混淆,对两种环扫模式的理论方位分辨率进行了比较}建立了飞行器末段环扫成像参数的优化模型,给出优化方法.分析了不同环扫模式的适用性,并指出相比全程环扫SAR模式,高程环扫SAR+低程环扫DBS的成像模式可为定位增加信息量.但改善量不大.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	潘旭东	中国航天科工集团公司第四研究院	8	29	3.0	5.0
2	李静	中国航天科工集团公司第四研究院	9	23	2.0	4.0
3	王小虎	中国航天科工集团公司第四研究院	5	29	2.0	5.0