自动测试设备中电缆损耗补偿

• 作者: 刘波 易燕
• 来源期刊: 计算机与数字工程
• 学科: 工学
• 关键词: 自动测试设备 电缆损耗 小尺寸引脚电子器件 信号补偿 MAX9979
• 年，卷（期）: 2009,（11）
• 所属期刊栏目: 工程实践
• 页码范围: 163-165
• 页数: 3页
• 分类号: TP211.5
• 字数: 2291字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-9722.2009.11.046

摘要

自动测试设备(ATE)中包含了非常复杂的集成电路,专门用于驱动设备的每个引脚.而各个测试设备供应商为了降低成本,采用了质量较差的电缆来连接各个引脚,从而产生了一定的电缆损耗.为了补偿这种损耗,文章采用小尺寸引脚电子器件(PE)来驱动电缆,通过适当的电子电路来补偿电缆损耗,使ATE系统性能接近PE所能提供的性能指标,达到无需考虑电缆损耗问题的目的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	易燕		12	36	4.0	5.0
2	刘波		12	23	3.0	4.0