基于步进应力加速寿命试验的硅压力传感器寿命预测

• 作者: 吴永亮 孟召丽 陈国光
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 硅压力传感器 步进加速寿命试验 威布尔分布 寿命预测
• 年，卷（期）: 2009,（12）
• 所属期刊栏目: 理论与算法
• 页码范围: 44-47
• 页数: 4页
• 分类号: TP202|TP212.12
• 字数: 3112字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-7300.2009.12.013

摘要

通过提高硅压力传感器的高温环境应力,研究制定了其加速寿命试验的设计方案,进行了步进应力加速寿命试验.利用线性回归方法完成了试验数据的统计和分析,应用威布尔分布函数描述其寿命分布并完成了常温应力下的寿命预测.研究结果表明,试验设计方案是正确可行的,硅压力传感器的寿命服从威布尔分布,其加速模型符合阿伦尼斯方程,加速参数的精确计算确保以后在很短的时间内便可估算出在正常应力下的寿命.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈国光	中北大学机电工程学院	58	238	8.0	13.0
2	吴永亮	中北大学机电工程学院	2	9	1.0	2.0
3	孟召丽	中北大学机电工程学院	2	9	1.0	2.0