基于ATML技术的全寿命周期测试信息框架技术研究

• 作者: 陈新 马好东
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: ATML 装备 全寿命周期 测试信息框架
• 年，卷（期）: 2009,（6）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 1087-1089
• 页数: 3页
• 分类号: TP391
• 语种: 中文

摘要

任何系统从诞生到退役一般要经过设计、生产和维护三个生命周期阶段,在每个阶段都需要进行测试活动.测试信息的交换和传递是提高测试效率和诊断精度的必经途径;ATML标准作为一种用于测试系统之间以及测试系统内部信息存储和传递的标准,以XML文件形式组织对象目标全寿命周期测试诊断信息;文章从装备全寿命周期测试需求入手,通过对ATML各部分信息结构与信息内容的研究,提出了一种明确的全寿命周期内信息框架的构建方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马好东		10	98	5.0	9.0