屏蔽双绞线的干扰耦合特性研究

• 作者: 王明皓 臧家左 黄家平
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 屏蔽双绞线 电磁干扰 耦合电压
• 年，卷（期）: 2009,（11）
• 所属期刊栏目: 研究与设计
• 页码范围: 1-3
• 页数: 3页
• 分类号: TN245
• 字数: 1662字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-7300.2009.11.001

摘要

采用场-线耦合理论来对数据线进行电磁干扰耦合能力测试机理分析.在所搭建的测试平台上,对不同的屏蔽双绞线,非屏蔽双绞线进行测试与实验验证.得出当采用屏蔽双绞线作为传输介质时,屏蔽状态越好,其干扰耦合能力较弱.测试结果表明,屏蔽双绞线在完全屏蔽的情况下,其抗干扰的能力最好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王明皓		12	106	5.0	10.0
2	黄家平	沈阳航空工业学院电子信息工程学院	2	51	2.0	2.0
3	臧家左		1	29	1.0	1.0