基于SD控制器的闪存测试系统设计与研究

• 作者: 付建云 胡建萍 麻伟建
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 闪存 SD控制器 测试系统 固件
• 年，卷（期）: 2009,（9）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 1682-1683,1695
• 页数: 3页
• 分类号: TN919.23
• 语种: 中文

摘要

目前,Flash已经在移动存储领域和嵌入式应用系统中成为无可争议的主角.而且随着生产制造成本的不断降低,其应用领域继续快速扩大,已经从数码消费存储领域向海量数码数据存储系统不断挺进.基于SD控制器设计了一个全新的Flash测试系统.在SD控制器中引入了CRC校验、差错控制编码(ECC)、Flash存储器的直接存储访问(DMA)控制等关键技术,保证了存取数据的完整性、通信时数据的可靠性、传输数据的快速性.为了能够实现固件的随时下载更新,重点引入了可下载固件的RISC CPU IP核结构,满足了闪存测试系统功能的不断变化.该测试系统能够完成对闪存进行擦除测试、读写测试以及坏块的检测.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡建萍	杭州电子科技大学电子信息学院	48	165	7.0	9.0
2	麻伟建	杭州电子科技大学电子信息学院	1	2	1.0	1.0
3	付建云	杭州电子科技大学电子信息学院	1	2	1.0	1.0